СИСТЕМА ЗАМЕРА ЭКСПОЗИЦИИ; ВЫБОР СИСТЕМЫ ЗАМЕРА ЭКСПОЗИЦИИ - Nikon F70_F70D - Инструкция по эксплуатации - Страница 43

СИСТЕМА ЗАМЕРА ЭКСПОЗИЦИИ

ВЫБОР СИСТЕМЫ ЗАМЕРА ЭКСПОЗИЦИИ

Матричный замер экспозиции ( )

Данная система идеальна при оперативной съемке в
любом режиме отработки экспозиции (стр. 46-60). При

использовании автофокусных объективов Nikkor типа D

(включая объективы серии AF-I) автоматически включа-

ется система пространственного матричного замера

экспозиции. Система пространственного матричного
замера экспозиции использует данные трех типов:

1) яркость сюжета; 2) контрастность сюжета; и 3) расс-

тояние до находящегося в фокусе объекта (информация
о расстоянии). Данные о яркости и контрастности сюжета

генерируются восьмисегментным улучшенным
матричным сенсором камеры, а данные о расстоянии до
находящегося в фокусе объекта - применяемым

автофокусным объективом Nikkor типа D. Кроме того,
при расчете также учитывается поступающая от
автофокусировочной системы камеры информация о

том, находится ли объект съемки в центре кадра.

Анализируя эти данные, встроенный микропроцессор

камеры F70/F70D способен правильно определять

экспозицию даже в чрезвычайно сложных условиях
освещенности.
При использовании объектива, не относящегося к типу
D, выполняется так называемый "улучшенный
матричный замер экспозиции". Несмотря на то, что

такой объектив не способен выдавать информацию о

расстоянии до находящегося в фокусе объекта,

восьмисегментный улучшенный матричный сенсор
обеспечивает точное определение экспозиции в
большинстве условий освещенности.
Имейте в виду, что система матричного замера
экспозиции может использоваться только совместно с

объективами, имеющими встроенный микропроцессор

(например, с автофокусными объективами Nikkor и

объективами серии AI-P).

43